Untersuchung des Überschlagverhaltens nanostrukturierter Lotus-Effect-Isolierflächen

Wu, Junliang; Cornelissen, Christian; Schnettler, Armin

Berlin [u.a.] / VDE-Verl. (2005) [Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband]

Grenzflächen in elektrischen Isoliersystemen : Beanspruchungen, Design, Prüfverfahren, Lebensdauer ; Vorträge der ETG-Fachtagung am 8. und 9. März 2005 in Hanau / Veranst.: Fachbereich Q2 Werkstoffe, Isoliersysteme und Diagnostik der Energietechnischen Gesellschaft im VDE (ETG) in Zusammenarb. mit IEEE German Chapter der Power Engineering Society (PES); Deutsches Komitee der CIGRE. Wiss. Tagungsleitung: Josef Kindersberger
Seite(n): 61-67

Identifikationsnummern

  • REPORT NUMBER: RWTH-CONV-181865