Fundamental investigation on the thermal transfer, coefficient due to arc faults

Zhang, X.; Pietsch, Gerhard J.; Zhang, J. S.; Gockenbach, E.

New York, NY / IEEE (2006) [Fachzeitschriftenartikel]

IEEE transactions on plasma science
Band: 34
Ausgabe: 3, Part 3
Seite(n): 1038-1045