Determination of a Failure Probability Prognosis based on PD - Diagnostics in GIS

Dreisbusch, K.; Kranz, H.-G.; Schnettler, Armin

New York, NY / IEEE (2008) [Beitrag zu einem Tagungsband, Fachzeitschriftenartikel]

IEEE transactions on dielectrics and electrical insulation
Band: 15
Ausgabe: 6
Seite(n): 1707-1714